SNJ54BCT8373AFK
Texas Instruments
Produit non:
SNJ54BCT8373AFK
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Forfait:
28-LCCC (11.43x11.43)
Lot:
-
Fiche technique:
Description:
SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
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Information sur le produit
Paramètre Info
Guide de l'utilisateur
| Operating Temperature | -55°C ~ 125°C |
| Series | 54BCT |
| Package / Case | 28-CLCC |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Latches |
| Mfr | Texas Instruments |
| Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Package | Tube |
| Mounting Type | Surface Mount |
| Product Status | Active |
| Supplier Device Package | 28-LCCC (11.43x11.43) |
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2000+Volume moyen quotidien RFQ
30,000,000Unité de produit standard
2800+Fabricants dans le monde entier
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